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产品详情
  • 产品名称:四探针薄膜电阻测试仪器

  • 产品型号:FTDZS-I
  • 产品厂商:北京冠测
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简单介绍:
该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。
详情介绍:

测量半导电电阻率时: 电阻率10-4--105Ω-cm;分辩率10-6Ω-cm

                      测量其他(电线电缆)电阻时: 电阻10-4--2X105Ω,分辨率1uΩ

二、 数字电压表:

1.  量程 2 mV、20 mV、200 mV、2V

2.  测量误差  2mA档±(0.5%读数+8字);20mV—2V挡±(0.5%读数+2字)

3.  显示4 1/2 位数字显示0—19999具有极性和过载自动显示,小数点、单位自动显示。

三、 恒流源:

1.  电流输出:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA.

2.    电流误差:±(0.5%读数+2字)




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